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版权信息
序一
序二
序三
前言
第一篇 集成电路测试及测试系统简介
第1章 集成电路测试简介
1.1 集成电路测试的分类
1.2 IC测试项目
1.3 产品手册与测试计划
1.4 测试程序
第2章 集成电路测试系统
2.1 模拟IC测试系统
2.2 数字IC测试系统
2.3 混合IC测试系统
2.4 ST2500高性能数模混合测试系统
2.5 ST-IDE软件系统
2.6 集成电路测试工程师实训平台
第二篇 集成电路基本测试原理
第3章 直流及参数测试
3.1 开短路测试
3.2 漏电流测试
3.3 电源电流测试
3.4 直流偏置与增益测试
3.5 输出稳压测试
3.6 数字电路输入电平与输出电平测试
第4章 数字电路功能及交流参数测试
4.1 测试向量
4.2 时序的设定
4.3 引脚电平的设定
4.4 动态负载测量开短路
第5章 混合信号测试基础
5.1 时域与频域分析
5.2 采样
5.3 DAC的静态参数测试
5.4 ADC的静态参数测试
5.5 ADC/DAC的动态参数测试
第三篇 模拟集成电路测试与实践
第6章 集成运算放大器测试与实践
6.1 集成运算放大器的基本特性
6.2 集成运算放大器的特征参数测试方法
6.3 集成运算放大器测试计划及硬件资源
6.4 测试程序开发
6.5 程序调试及故障定位
6.6 测试总结
第7章 电源管理芯片测试与实践
7.1 电源管理芯片原理与基本特性
7.2 LDO特征参数测试方法
7.3 电源管理芯片测试计划及硬件资源
7.4 测试程序开发
7.5 程序调试及故障定位
7.6 测试总结
第四篇 数字集成电路测试与实践
第8章 存储器测试与实践
8.1 EEPROM原理与基本特征
8.2 EEPROM特征参数测试方法
8.3 EEPROM测试计划及硬件资源
8.4 测试程序开发
8.5 程序调试及故障定位
8.6 测试总结
第9章 MCU测试与实践
9.1 MCU原理与基本特征
9.2 MCU特征参数测试方法
9.3 MCU测试计划及硬件资源
9.4 测试程序开发
9.5 程序调试及故障定位
9.6 测试总结
第五篇 混合集成电路测试与实践
第10章 ADC测试
10.1 ADC原理及基本特征
10.2 ADC芯片特征参数及测试方法
10.3 ADC芯片测试计划及硬件资源
10.4 测试程序开发
10.5 程序调试及故障定位
10.6 测试总结
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附录 技术术语中英文对照表
更新时间：2021-06-24 11:33:18
完结共78章
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