第2章　集成电路测试系统

为满足大规模集成电路量产的需求，一般需要测试系统的ATE具有通用性，即可以完成某一大类大部分集成电路的功能及参数测试，这些大类包括：数字电路、模拟电路、混合信号。每种类型还可以细分成更多种类，如数字电路又包含存储器，模拟电路里又包含射频元件，等等。

测试机制造厂商根据这些产品测试需求推出不同型号的测试机，每家制造商采用的具体实现方式都会不同，但在整体结构上可以用通用的方式来描述。本章介绍了通用IC测试系统的组成和工作原理。