1.4　测试程序

测试程序（Test Program）是可以被ATE识别和执行的指令集合。ATE之所以可以按照测试计划完成对被测器件（Device Under Test，DUT）的测试，依靠的是在测试过程中按照测试程序控制测试系统硬件，施加激励，测量响应，并与预期设定的门限（Limit）进行比较，最终对每个测试项给出“通过”（Pass）或“失效”（Fail）的结果。测试程序会按照器件在测试中表现出的性能进行相应的分类，这个过程叫作“Binning”，或者“分Bin”。另外，测试程序还会负责与外围测试设备（如分选机、探针台等）进行交互，并搜集和提供汇总的测试结果或数据给测试或生产工程师，用于良率（Yield）分析和控制。

1.4.1　测试程序的分类

测试按照不同的应用有不同的分类，相应的测试程序也有相应的分类，如特性化分析程序、量产程序等。测试程序根据不同的应用场景，会有不同的侧重点。

特性化分析程序会尽可能地对各种参数做详尽的测试，包括各种参数的变化组合，以便确定产品工作的边界条件。特性化分析程序通常在芯片设计完成之后就开始开发，用来对产品进行全面的分析，收集的数据用于产品手册的修正或设计及工艺的改进。

量产程序的主要目的是区分产品的好坏，所以需要在满足测试覆盖率的前提下尽可能地快速执行，以达到增加产出、降低成本的目的。

1.4.2　量产测试程序的流程

测试项目按照什么样的顺序执行，对于量产测试程序是很重要的。以下是几个建议：

1）开短路测试应该放在首位。

2）失效比较多的项目应该尽早执行。

3）针对不同的应用环境，定义不同速度等级的产品或多个Pass等级，这是提升良率的方法之一（例如Xilinx FPGA的-1、-2、-3速度等级，对应了器件可以支持的最高运行频率）。

4）测试数据应该被定期检测，以便对测试流程进行优化。

图1.13中给出了测试项目运行顺序与分Bin示意图。

1.4.3　分类筛选

测试的分Bin，实际上是根据测试结果对被测产品进行分类筛选的一种方式。例如前文所说的根据测试结果对IC支持的最高运行频率进行分类筛选，得到不同速度等级的产品。

Bin分为硬件Bin（Hardware Bin）和软件Bin（Software Bin）两种。

硬件Bin对应产品的实际物理操作，把不同Bin的产品放在不同的料管或料盘中。硬件Bin的数量受限于与ATE连接的分选机或探针台参数。软件Bin的数量通常只是受到ATE系统软件的限制，可以定义的数量较多，能够更详细地分辨产品的失效状况。