2.6　集成电路测试工程师实训平台

为增进用户对集成电路测试机的理解与实际应用，加速科技推出了以ST2516测试机为基础，配置一片主控板SCB，一块业务板DFB32，并具备集成运算放大器（Operational Amplifier，OPA）、集成电源管理芯片（Power Management IC，PMIC）、MCU、EEPROM和ADC教学实验板，如图2.54所示。

教学实验板上为每个通道都设计了测试点，以便连接示波器和万用表；采用插座设计，方便更换被测器件，预留了发光二极管（Light Emitting Diode，LED）指示灯，方便观察测试电路的状态是否正常。

2.6.1　实验产品

1. 运算放大器模块

运算放大器部分（见图2.55）以德州仪器公司生产的LM358运算放大器为被测器件，使用DPS为芯片电源，使用PPMU、BPMU作为直流供给及测量单元，同时在用不同参数进行测量时，可使用继电器切换所用资源。通过学习OPA测试过程，用户可以掌握OPA常见参数测试原理，ATE相关DPS、PPMU、BPMU等资源的使用方法。

2. PMIC–LDO模块

LDO采用德州仪器公司生产的TPS73625为被测器件，使用DPS为芯片电源，使用PPMU、BPMU作为直流供给及测量单元，同时在用不同参数进行测量时，可使用继电器切换所用资源，同时预留AWG和DGT接口以便测试其交流参数等。通过对LDO模块（见图2.56）的学习，用户可掌握LDO常见参数的测试原理，以及ATEDPS、PPMU、BPMU、AWG和DGT等资源的使用方法。

3. EEPROM模块

EEPROM采用深圳航顺公司的HK24C02为被测器件，使用PPMU为被测器件电源供电，使用DIO进行存储读写，同时预留了外部继电器，以控制I2C引脚在测试过程中与上拉电阻的连通与断开。通过学习EEPROM模块（见图2.57）测试，用户可掌握通过I2C总线写入及读取存储芯片的原理，并可学习ATE DIO模块相关时序、向量等相关知识。

4. MCU模块

MCU采用深圳航顺HK32F031F4P6作为被测芯片，使用DPS作为芯片电源供电，其余引脚均使用DIO进行数字向量的运行。通过学习MCU模块（见图2.58），用户可掌握MCU相关测试项目，同时可以继续加深ATE功能测试的实现，以及使用TMU测量输出频率的方法。

5. ADC模块

ADC采用美国ADI公司生产的AD0832作为被测器件，使用DPS作为芯片电源供电，使用AWG作为模拟信号输入端，使用DIO采集ADC数字信号输出，以完成ADC的静态及动态参数测试。通过学习ADC模块（见图2.59），用户可了解ADC相关参数测试原理，以及ATE的发送模拟信号、进行数字采集等功能。

2.6.2　教学实验板的使用

实验时需要使用专用的测试线缆将测试机与教学实验板相连接，线缆两端的接口不同，请注意区分。线缆端连接测试机业务板，另一端连接需要测试的教学产品接口。因为教学仪器上只配备了一块业务板卡，所以每次只支持一种产品的实验测试。

在连接测试线缆的过程中要保持测试插座为开路状态，即不要将被测器件放在插座中。拔插线缆时应捏住白色外壳部分，不可以直接拉拽线缆。同时，接口应对准插座垂直上下移动，不能左右晃动，以免损伤接口部分。待线缆连接完成后，在测试插座中放入被测器件，放入器件时要注意第一引脚方向。如图2.60所示，用线缆连接测试机DFB32接口与待测IC对应的教学实验板接口，然后在对应的插座内放入待测IC，就可以进行实验测试了。

不使用教学实验板时，应将教学板保存在干燥、防静电的环境中，以免教学实验板受潮而影响测试结果。