2.4 ST2500高性能数模混合测试系统

测试机作为集成电路测试环节的核心设备,其成本和测试效率直接影响了IC的生产成本。随着半导体芯片在中国生产制造规模扩大和系统级封装(System in Package,SIP)的大量推广,单颗芯片集成了越来越多的功能,高性能可扩展的数字混合信号测试机就显得非常重要了。加速科技经过多年研发,采用业界最先进的多学科交叉技术,推出高性能可扩展的数字混合信号测试系统解决方案。

ST2500高性能数模混合测试系统如图2.15所示,由杭州加速科技有限公司研发,借鉴高速通信技术,采用最先进的系统架构,集成度高,功能强大,扩展性强。单机支持5个功能槽位,根据不同应用场景可以配置不同数量的板卡,系统最大可以支持4机级联,共20个功能槽位。功能板卡采用先进的FPGA实现,单板高度集成数字与混合信号功能,包含32个125MHz的数字通道,4路DPS,4路100MHz的TMU,1路采样频率为2MSPS的AWG,1路采样频率为1MSPS的DGT,1路高精度RVS,完全通过硬件实现向量下发和系统调度,支持无阻塞全并行测试,测试效率极高,可以广泛应用于MCU、闪存(FLSAH)、电可擦可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory,EEPROM)、小型复杂可编程逻辑器件(Complex Programming Logic Device,CPLD)、现场可编程逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)、指纹芯片、低压差线性稳压器(Low Dropout Regulator,LDO)、射频功率放大器(Power Amplifier,PA)、射频(Radio Frequency,RF)开关、滤波器等半导体器件测试和模块系统级测试。

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图2.15 ST2500系列160通道数模混合测试系统

ST2500提供用户友好的集成开发环境、丰富的开发和调试工具以便客户进行测试程序开发。针对测试工厂批量测试,ST2500提供专用的工厂界面,集成丰富的数据记录和分析工具,并可提供客制化工厂系统连接方案,方便批量测试和管理。

ST2500高性能数字混合信号测试系统特点:

  • 针对MCU/FLASH/Logic等数字/混合芯片进行优化,降低测试成本。
  • 使用125MHz线缆连接,支持高效并行测试。
  • 40Gbps通信系统,实现高速测试通信。
  • 采用FPGA实现硬件调度,支持无阻塞并行测试。
  • 先进通信架构,模块化设计,通过模块组合实现不同通道资源扩展。
  • 可根据客户需求灵活配置测试系统。
  • 针对数字、混合信号、射频、传感器搭配不同资源板卡。

ST2500关键特性:

  • 125MHz测试频率,250Mbps数据传输速率。
  • 单板集成数字、模拟、混合信号测试功能。
  • 支持最高640个测试工位并行测试。
  • 单板支持32路数字I/O,单台测试机支持32~160路数字I/O,4台测试机级联,最大支持640路数字I/O。
  • 每通道192M条向量存储深度,扫描(SCAN)模式单扫描链(SCAN Chain)高达3GB,高端通信架构,向量加载及测试过程中的动态修改以广播方式下发,提高并行测试效率。
  • 突破传统格式(Format)限制,每通道可定义128组时序组(Timing Set),每Timing Set可定义最多8组波形表(Wave Table),4个沿(Edge)可调,输入输出可自由转换。
  • 每通道含独立PPMU模块,±40mA动态负载单元。
  • 单板支持4路DPS(+8.4V~-3.25V电平设定,驱动电流为500mA),电源支持并联模式(Gang Mode),单台测试机头最高支持20路DPS,4台测试机级联支持80路DPS。
  • 单板支持4路100MHz TMU,1路2MSPS 16bit AWG,1路1MSPS 16bit DGT及1路高精度RVS。
  • 系统支持125MHz线缆连接模式,节省系统成本。
  • 通信系统标准,超负荷硬件自测系统,保证系统超长时间稳定运行。
  • 智能软硬件维护系统,提供故障代码,精确定位软硬件故障位置。
  • 提供基于Eclipse的集成开发环境(Integrated Development Environment,IDE),支持基于C/C++的开发,提供各种开发工具和调试工具。
  • 针对工厂量产提供专门的图形用户界面(Graphical User Interface,GUI)数据实现显示监控,提供丰富的数据记录分析工具。

2.4.1 ST2500硬件资源

ST2500测试机系统架构如图2.16所示,业务板安装在主控板的插槽上,业务板资源与负载板(Load Board,LB)通过DUT接口线缆(Cable)连接,构成测试系统到LB信号输入与输出通道。

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图2.16 ST2500系统架构图

1. ST2500系统整体硬件

ST2500系列测试系统由测试机与控制电脑组成。测试机机箱中装有主控板、业务板、电源和风扇。机箱面板提供电源开关孔位、接地接口、主控板和业务板各接口,以及风扇通风孔。图2.17展示了ST2500系列160通道测试机箱前面板各个接口的位置。

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图2.17 ST2500测试机正面与工控机

机箱正面包含电源开关、紧急停止按钮以及业务板接口。

控制电脑装有级联接口卡,通过级联线与测试机连接,实现测试程序对测试机硬件的控制,每台控制电脑可以最多提供4个级联接口,级联接口按图2.18中1~4的顺序排列。此外,控制电脑还提供1路TTL接口和1路GPIB接口,通过并行晶体管-晶体管逻辑接口(Transistor Transistor Logic,TTL)或通用接口总线(General-Purpose Interface Bus,GPIB)与分选机或探针台连接,控制测试通信及分Bin,实现自动化测试。

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图2.18 ST2500测试机和控制电脑背面接口

在测试过程中,被测IC会被固定在DUT板的插座上,而测试机则通过业务板上的接口和线缆连接DUT板,如图2.19所示。

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图2.19 ST2500通过线缆连接DUT板

2. 系统主控板

每块系统主控板(System Control Board,SCB)提供5个业务板槽位和1个电源槽位。

主控板上有多个功能模块,根据功能可分为以下几部分:

  • 系统控制管理由CPLD和MCU实现。CPLD检测用户按键操作以及上下电控制;MCU监控系统电压、温度以及业务板的基本信息,同时还负责控制状态灯和风扇。
  • 系统数据高速处理转发功能由FPGA实现,同时,业务板之间的快速触发协同也由FPGA控制。

主控板的外设接口包括:

  • 校准接口,用于系统校准。
  • 升级接口1路,用于升级内部板卡。
  • 级联接口1路,用于双机和四机级联。
  • 电源槽位1路,用于测试板上电和通过控制板给业务板上电。

3. 业务板

业务板集成多个模拟前端(Analog Frond End,AFE)模块,包含CBIT、AWG、DGT、数字输入输出(Digital I/O)、RVS、BPMU、DPS、通用输入输出(General Purpose Input Output,GPIO)、TMU用以满足不同测试需求,通过插座J1和J2连接到LB插座,LB布线接到DUT,为各模块信号与DUT引脚建立信号通道。

表2.1描述了DFB32业务板的资源配置。

表2.1 业务板资源列表

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4. 通道规格

下面依次介绍业务板各通道的通道规格(Channel Specification)。

(1)数字通道(DIO)

数字通道参数如表2.2所示。

表2.2 数字通道规格

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DIO_CH每个通道带有PMU,称为PPMU(Per Pin Precision Measurement Unit),DIO PPMU支持FVMI、FIMV、FN三种模式(详见2.2.2节),其测量模式及对应参数如表2.3所示。

表2.3 PPMU通道规格

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(2)高压通道(High Voltage Channel,HV_CH)

高压通道共有4个,提供高电压输出。HV_CH0/8/16/24共用DIO_CH 0/8/16/24通道,其通道参数如表2.4所示。

表2.4 HV_CN通道规格

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(3)DGT(波形采集器)

DFB32业务板采用单通道DGT,DGT_IN与BPMU0共享同一通道,当通道用作DGT时,其通道参数如表2.5所示。

表2.5 DGT通道规格

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(4)AWG(波形发生器)

AWG支持输出正弦波(SIN)、斜波(RAMP)、三角波(TRIANGULAR)和方波(PULSE)。AWG通道参数如表2.6所示。

表2.6 AWG通道规格

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(5)继电器控制位(CBIT)

CBIT用于控制继电器(Relay)的切换。参数规格如表2.7所示。

表2.7 CBIT规格

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(6)器件供电单元(DPS)

DPS用于为待测器件电源引脚提供电压和电流,DPS通道参数如表2.8所示。

表2.8 DPS通道规格

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(7)参考电压源(RVS)

RVS提供了精度更高的电压驱动和测量能力,可作为被测芯片的参考电压输入,其通道参数如表2.9所示。

表2.9 RVS通道规格

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(8)时间测量单元(TMU)

每块业务板包含4个TMU通道,默认接口为数字通道DIO0/1/16/17,可通过软件配置通过任意数字通道连接。TMU用于测量频率、占空比、上升沿时间、下降沿时间、延时、最大电压、最小电压,以及事件采集。其参数规格如表2.10所示。

表2.10 TMU通道规格

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(9)板级精密测量单元(BPMU)

BPMU包含4个通道,其参数如表2.11所示。

表2.11 BPMU通道规格

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5. 测试机电源

机箱内部装电源大小为250mm×100mm×72mm(长、宽、高),测试系统使用220V(AC)供电。电源带有保护功能以提高设备的稳定性。电源有短路、过压、过流、超温保护,避免突发情况对设备造成巨大损害,同时避免意外发生。电源相关规格如表2.12所示。

表2.12 额定功率及工作环境

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①RH(Relative Humidity),即相对湿度。

6. DUT线缆

DUT线缆采用125MHz Cable,每块业务板配置1根Cable,实物如图2.20所示。

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图2.20 DUT线缆

7. 级联线缆

级联线缆(见图2.21)用于连接控制电脑和测试机,不同测试机需要的线缆数量如下:

  • ST2516:1根线缆。
  • ST2532:2根线缆。
  • ST2564:4根线缆。
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图2.21 级联线缆

2.4.2 环境要求

测试系统工作或存放时对温度、湿度等条件有一定的要求,具体要求如表2.13所示。

表2.13 测试系统工作及存储环境要求

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①1英尺≈0.305米。

ST2500系列测试机系统机箱面板的接口类型是一致的,只是支持的业务板数量和机箱大小不同。编写本书时,ST2500系列已推出ST2516、ST2532、ST2564三款机型,配置业务板DFB32,最多支持的资源接口如图2.22所示。针对RF等测试的业务板进入开发调试阶段,可采用升级后的RF类芯片测试机型。

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图2.22 ST2500系列机型配置